Publications
Below a complete list of 50 main publications (first, second, and third author papers). For a list of all papers, please visit NASA/ADS directly.
W. Wang, A. Faisst, K. Finner et al.
Y. Lin, D. Masters, A. Faisst et al.
A. Tsujita, S. Fujimoto, A. Faisst et al.
J. Zavala, A. Faisst, M. Aravena et al.
L. Liu, G. Sun, A. Faisst et al.
A. Faisst, S. Fujimoto, A. Tsujita et al.
W. Ren, J. Silverman, A. Faisst et al.
E. Zhang, A. Faisst, B. Crill et al.
A. Faisst, L. Liu, Y. Dubois et al.
S. Fujimoto, A. Faisst, A. Tsujita et al.
Y. Lin, A. Faisst, R. Chary et al.
A. Faisst, C. Chen, L. Ciesla et al.
D. O'Ryan, B. Simmons, A. Faisst et al.
A. Faisst, L. Yang, M. Brinch et al.
T. Venville, P. Capak, A. Faisst et al.
A. Faisst, T. Morishita
M. Jafariyazani, D. Masters, A. Faisst et al.
D. Maschmann, C. Leitherer, A. Faisst et al.
G. Sun, A. Lidz, A. Faisst et al.
K. Finner, A. Faisst, R. Chary et al.
N. Scoville, A. Faisst, J. Weaver et al.
A. Faisst, R. Chary, G. Brammer et al.
A. Faisst, L. Yan, M. Béthermin et al.
S. Fajardo-Acosta, A. Faisst, C. Grillmair et al.
A. Faisst, R. Chary, S. Fajardo-Acosta et al.
B. Vanderhoof, A. Faisst, L. Shen et al.
Y. Fudamoto, P. Oesch, A. Faisst et al.
O. Le Fèvre, M. Béthermin, A. Faisst et al.
A. Faisst, Y. Fudamoto, P. Oesch et al.
P. Cassata, L. Morselli, A. Faisst et al.
M. Béthermin, M. Dessauges-Zavadsky, A. Faisst et al.
A. Faisst, D. Schaerer, B. Lemaux et al.
A. Pahl, A. Shapley, A. Faisst et al.
C. Leitherer, J. Lee & A. Faisst
A. Faisst, P. Capak, N. Emami et al.
R. Pavesi, D. Riechers, A. Faisst et al.
A. Faisst, A. Prakash, P. Capak et al.
R. Chary, L. Armus, A. Faisst et al.
A. Faisst, D. Masters, Y. Wang et al.
I. Davidzon, O. Ilbert, A. Faisst et al.
A. Faisst, P. Capak, L. Yan et al.
I. Barisic, A. Faisst, P. Capak et al.
A. Faisst, C. Carollo, P. Capak et al.
A. Faisst
D. Masters, A. Faisst & P. Capak
A. Faisst, P. Capak, I. Davidzon et al.
A. Faisst, P. Capak, B. Hsieh et al.
N. Scoville, A. Faisst, P. Capak et al.
A. Faisst, P. Capak, C. Carollo et al.
P. Capak, A. Faisst, J. Vieira et al.